管失效模式与冷压烧结工艺

管失效模式与冷压烧结工艺

根据几种常见的四氟管失效模式与冷压烧结工艺相关的主要包含以下几点：

1.静电击穿

高速流体在传输过程中，由十聚四氟乙烯的介电性，与内管壁摩擦产生静电，静电积聚易导致静电击穿，并形成泄漏故障。可以增加导电层，例如炭黑层，使得形成的静电可以随管壁导出，进而有效避免静电击穿的发生。增加导电层会增加冷压工艺的难度，主要在十控制导电层厚度的稳定性;同时导电层对烧结的结品过程也有一定影响。

2.四氟管体存在杂质

四氟管体中如存在杂质，由于杂质与聚四氟乙烯树脂之间不能形成均匀的界面，在杂质与树脂的结合面必定存在应力集中点。这会使管体在使用过程中发生应力开裂的几率大增，出现撕裂的界面，严重影响四氟管的使用寿命。因此，冷压烧结过程须在无尘环境下进行。

3.四氟管体存在银纹

银纹是内管管体可能存在的微小的裂纹。银纹方向与内管轴向平行，这是由软管的冷压烧结的成型过程所决定的。如果银纹的两端没有被完全固定，可能在后续的使用过程中逐渐变大，发展成裂纹，导致内管失效。